X-žarkovna fotoelektronska spektroskopija (XPS) je oprema za površinsko analizo s katero se določa elementna sestava in okolje elementa – oksidacijsko stanje in kemijsko povezavo elementov. Uporabljala se bo za napredne analize in študije različnih materialov. Uporablja se tako za gladke in hrapave površine tankih plasti kot tudi za bolj komplicirane prahove ter fine delce, za analizo površinskih atomskih plasti materialov z debelino nekaj μm. Omogoča avtomatsko kotno ločljivo meritev XPS, segrevanje in hlajenje vzorca ter globinsko profiliranje organskih snovi z uporabo tehnologije klastrov in monoatomnih argonovih ionov.

Naložbo sofinancirata Republika Slovenija, Ministrstvo za visoko šolstvo, znanost in inovacije in Evropska unija iz Evropskega sklada za regionalni razvoj.